離子遷移測試儀
★ 離子遷移測試
離(li)子遷移(CAF )測(ce)(ce)試是評價(jia)電(dian)子產(chan)品(pin)或(huo)元(yuan)件的絕(jue)緣(yuan)可靠性的一(yi)種(zhong)測(ce)(ce)試方法，將樣品(pin)置于高(gao)溫高(gao)濕度(du)的環境(jing)中(zhong)，并(bing)在相鄰的兩(liang)個絕(jue)緣(yuan)網絡之間(jian)施(shi)加一(yi)定(ding)的直流(liu)電(dian)壓(ya)（偏置電(dian)壓(ya)），在長時間(jian)的測(ce)(ce)試條(tiao)件下，檢測(ce)(ce)兩(liang)個網絡之間(jian)是否有絕(jue)緣(yuan)失效。
實踐證明，將測試樣品放置于高溫高濕的環境試驗箱中，并在線路板上焊接電纜線，施加偏置電壓，然后每隔一段時間，將PCB從環境試驗箱中取出，進行絕緣電阻測試，這種間斷式的測試方法，會漏過很多實際發生的離子遷移。
有效的離子遷移測試，需要將測試樣品放置于高溫高濕的環境試驗箱中，并在線路板上焊接電纜線，引出至環境試驗箱外的有關測試設備上，在線路板上施加促進離子遷移發生的偏置電壓和進行絕緣電阻測試，同時能實時檢測測試樣品上的泄漏電流。
★MIR 絕緣電阻測試系統主要用途：
PCB基材，PCB，電容，連(lian)接器(qi)等元件的絕緣可(ke)靠性測試(shi)SMT助(zhu)焊劑清洗工藝的評價電子絕緣材(cai)料，電纜及線材(cai)的絕緣老化性能(neng)評估(gu)
★MIR 絕(jue)緣(yuan)電阻測試系統主要特點(dian)：
●MIR絕(jue)緣電阻測試(shi)系(xi)統適應(ying)IPC, IEC,JPCA,ISO ,Bellcore等標(biao)準。
●每個Slot提(ti)供(gong)多達32個測試通道(dao)，系統可提供32*n（n=1，2...）不同(tong)數量通(tong)道(dao)。
●模塊化(hua)結構，不僅易于擴展，還(huan)易于進行故障定位和(he)維修(xiu)。
●采用(yong)高精(jing)度絕(jue)緣(yuan)電阻儀作為核心儀表。
●系統集成(cheng)試(shi)驗箱溫濕度測試(shi)。
●每個Slot的(de)測試參數可以獨立設置。
●可以檢(jian)測測試電纜開路或短路。
●可對絕(jue)緣電阻和漏電流的測量(liang)結果進行校正。
●偏置(zhi)電壓(ya)極性(xing)可(ke)變換。
●可以設(she)置(zhi)絕緣電阻下降一定程度或低于一定值作為離子遷移發生的判(pan)斷條件。
●首創遷(qian)移次數和漏(lou)電次數設定。
●系統可以跳(tiao)轉至絕緣電阻驗證(zheng)測試。
●測試狀態和(he)數(shu)據以表格(ge)，曲(qu)線，統計(ji)等多種界面呈現(xian) 。
●每(mei)個(ge)通道的漏電(dian)流(liu)實時高速(su)檢測，防(fang)止錯過短(duan)暫和(he)細小的遷移的發生(sheng)。
●系統(tong)每(mei)一通道都獨(du)立設置保(bao)護電路電阻以及轉換開關。
●專用(yong)PCB離(li)子遷移測試夾具(ju)。
