鍍層測厚儀
儀器介紹:
JT-607C鍍(du)層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)是(shi)一(yi)款設(she)計結構緊湊(cou),模塊(kuai)精密化程度極高的(de)(de)鍍(du)層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi),C型(xing)開槽設(she)計樣品腔,讓其滿足(zu)了既可(ke)測(ce)(ce)量超(chao)微小(xiao)樣品的(de)(de)檢測(ce)(ce),同時還可(ke)滿足(zu)超(chao)過樣品腔尺寸的(de)(de)大工(gong)件測(ce)(ce)量。被(bei)廣泛用于各類產(chan)品的(de)(de)質量管控(kong)、來料檢驗和對生(sheng)產(chan)工(gong)藝(yi)控(kong)制的(de)(de)測(ce)(ce)量使用。是(shi)一(yi)款擁(yong)有多種準直器(qi)(0.05mm、0.1mm、0.2mm、0.5mm)自動切換的(de)(de)高精密度X射線熒(ying)光光譜(pu)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)。適合小(xiao)面積電(dian)鍍(du)層、重復鍍(du)層、凹凸不平樣品測(ce)(ce)試。
儀器特點:
1)搭載微聚焦加強型X射線發生器和先(xian)進的光路轉換聚焦系統,可測量各微小的部件
最(zui)小測(ce)量面積(ji)達(da)0. 002mm2
2) 擁有無損變焦(jiao)檢測技術,手(shou)動變焦(jiao)功能(neng),可對各種(zhong)異(yi)形凹(ao)槽件(jian)進(jin)行無損檢測,凹(ao)槽深度范(fan)圍0-90mm
3) 核心EFP算法(fa),可對多層元(yuan)素,包括同種(zhong)元(yuan)素在不(bu)同層都可快·準·穩的(de)做出數(shu)據分析(xi)(釹鐵(tie)硼磁(ci)鐵(tie)上的(de)Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準檢測第(di)一層Ni和第(di)三層Ni的(de)厚度)
4) 配備(bei)高精(jing)密(mi)微(wei)型移動滑軌,可(ke)實現多(duo)點位,多(duo)樣品的精(jing)準(zhun)位移和同時檢測
5) 可同時分(fen)析(xi)23個鍍層(ceng),24中元素,測量元素范圍:氯(lv)CL (17) ---鈾(you)U (92),涂(tu)(tu)鍍層(ceng)分(fen)析(xi)范圍:氯(lv)CL (17)/鋰Li---鈾(you)U (92),涂(tu)(tu)鍍層(ceng)最低檢(jian)出限:0.005μm
6) 人(ren)性化(hua)封閉軟(ruan)件,自(zi)動判斷故障提示(shi)校(xiao)正及(ji)操作步驟,避(bi)免(mian)誤操作
7) 標配為兩(liang)個(ge)準(zhun)直器任(ren)意選(xuan)擇一種,最小測量(liang)面積可(ke)達0.002mm2
8) 配有微光聚焦技(ji)術,最近測距光斑擴散(san)度小于10%
相關產品:
二次元影像儀 2.5次元影像儀 一鍵式測量儀 玻璃測厚儀 光譜儀